不知道如何操作熒光測硫儀？進(jìn)來看
2024-11-14
熒光測硫儀通過將樣品引入高溫裂解爐，使其發(fā)生裂解氧化反應(yīng)，將硫化物轉(zhuǎn)化為二氧化硫。二氧化硫在紫外線的照射下會發(fā)出固定波長的熒光，該儀器通過光電倍增管接收并放大熒光信號，再經(jīng)計算機處理，即可快速準(zhǔn)確地測定出樣品中的硫含量。以下是熒光測硫儀的正確操作步驟，希望對您有所幫助。步驟一：準(zhǔn)...
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?便攜式X射線熒光光譜合金分析儀測定銅合金?含量的應(yīng)用分析
?便攜式X射線熒光光譜Compass500合金分析儀測定銅合金?銅合金概述銅的性能可以擴展以適應(yīng)許多工業(yè)應(yīng)用和高科技產(chǎn)品。這是通過合金化過程實現(xiàn)的：用兩種或多種不同的金屬生產(chǎn)固體材料。通過將銅與其他金屬結(jié)合，可以制造出適合幾乎所有應(yīng)用的一系列銅合金。目前，已知有400多種銅合金，每種都具有的性能組合，可滿足多種應(yīng)用、高質(zhì)量要求、制造工藝和環(huán)境。純銅具有任何商業(yè)金屬中很好的導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性。銅比大多數(shù)金屬更容易形成合金，并與多種合金元素形成以下合金。常見銅合金包括黃銅黃銅是一系列...
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便攜式礦石分析儀真空型礦石成分分析光譜儀?的分析檢測應(yīng)用
便攜式礦石分析儀Compass-300真空型礦石成分分析光譜儀?X射線光譜現(xiàn)場分析技術(shù)是采用現(xiàn)場X射線光譜儀在采樣現(xiàn)場對待測目標(biāo)體中元素進(jìn)行快速地定性和定量分析技術(shù),又稱為現(xiàn)場X射線熒光礦石分析儀。根據(jù)現(xiàn)場分析的應(yīng)用場景與采樣方法,X射線光譜現(xiàn)場分析可分為X射線光譜現(xiàn)場原位分析和X射線光譜現(xiàn)場取樣分析。現(xiàn)場原位分析是指將X射線光譜分析儀的探測窗直接置于巖(礦)石露頭或土壤或其他待測物料的表面,在現(xiàn)場原生條件下獲取待測目標(biāo)體中元素種類和元素含量的分析方法;現(xiàn)場取樣分析是指對待測...
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XRF熒光光譜元素分析儀常見問題解答-英飛思科學(xué)儀器?
X射線熒光光譜元素分析儀常見問題解答-英飛思科學(xué)儀器?能量色散型X熒光光譜儀分析問答答疑解惑1.什么是X射線熒光分析？答：(1)X射線是一種電磁波，波長比紫外線還要短，為0.001‐10nm左右。X射線照射到物質(zhì)上面以后，從物質(zhì)上主要可以觀測到以下三種X射線。熒光X射線、散射X射線、透過X射線，ESI英飛思NT產(chǎn)品使用的是通過對第一種熒光X射線的測定，從物質(zhì)中獲取元素信息（成分和膜厚）的熒光X射線法原理。物質(zhì)受到X射線的照射時，發(fā)生元素所固有的X射線（固有X射線或者特征X射線...
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XRF涂層測厚儀在涂層分析中的檢測應(yīng)用
XRF鍍層測厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進(jìn)行涂層測量的好處準(zhǔn)確的厚度測量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，同時控制成本。涂層的厚度應(yīng)與完成工作所需的一樣厚；制造涂層太厚的產(chǎn)品會增加制造成本?？蛻暨€通過確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來測量涂層，以對進(jìn)料進(jìn)行質(zhì)量控制。使用快速、高效且無損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場進(jìn)行質(zhì)量控制。一臺EDX8000測厚儀可以在短短10秒內(nèi)提供測試結(jié)果，并且可以通過單點校準(zhǔn)鏡頭來完善結(jié)果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不...
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XRF合金元素分析儀在鋅合金中的檢測應(yīng)用
XRF熒光光譜EDX9000A?合金分析儀在鋅合金分析中的應(yīng)用EDX9000A合金分析儀配備一個含35種以上元素的標(biāo)準(zhǔn)包，在幾秒鐘內(nèi)可生成合金的化學(xué)成分和牌號信息。從簡單的分揀到具有挑戰(zhàn)性的牌號區(qū)分，合金分析光譜儀EDX9000A都會提供高度精細(xì)的材料化學(xué)成分，以快速準(zhǔn)確地辨別純金屬和合金牌號。這些金屬和合金包含但不限于以下所列項目：鋁合金貴金屬鉻鉬鋼不銹鋼鈷合金工具鋼銅合金鈦合金異常合金鍛鋁合金鎂合金鋅合金鎳合金鋯合金鎳/鈷合金本案我們在X射線能量色散熒光光譜分析(XRF)...
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XRF熒光光譜儀在金屬鍍層定性定量分析中的檢測應(yīng)用
XRF熒光膜厚儀鍍層測厚儀EDX8000B在金屬鍍層定性和定量分析中的應(yīng)用?X射線熒光光譜(XRF)鍍層測厚儀EDX8000B廣泛應(yīng)用于在鍍層中的定性和定量分析。我們對檢測步驟進(jìn)行了測量和優(yōu)化.該方法采用每個元素*的特征X射線來確定是否沉積上某種元素;利用FP法快速測定一組在不同濃度的電解液中電沉積所得鍍層中的銅元素含量,結(jié)果表明該方法可以快速測定鍍層中元素含量的變化,該方法具有測試準(zhǔn),投入少,易掌握,速度快等特點X-RAY測厚儀EDX8000B的基本原理X射線廣泛用于各種無...
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XRF多元素分析儀在礦石分析檢測中的應(yīng)用
多元素分析儀XRF光譜EDX9000B-plus無損快速分析檢測各類礦石礦產(chǎn)樣品元素分析儀，是指同時或單獨實現(xiàn)樣品中多種種元素的分析的儀器。各類元素分析儀雖結(jié)構(gòu)和性能不同，而性能各異。新款元素分析儀EDX9000B基于XRF光譜無損檢測技術(shù)，已越來越受到市場歡迎。英飛思科學(xué)儀器的元素分析儀EDX9000B，從2016年開始商業(yè)化發(fā)布。2017年底推出的最新型號9000Bplus，集十多年的專業(yè)技術(shù)經(jīng)驗、創(chuàng)新、科技進(jìn)步于一體的全新一代元素分析儀。目前擁有眾多客戶和良好口碑，是目...
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