不知道如何操作熒光測(cè)硫儀？進(jìn)來(lái)看
2024-11-14
熒光測(cè)硫儀通過(guò)將樣品引入高溫裂解爐，使其發(fā)生裂解氧化反應(yīng)，將硫化物轉(zhuǎn)化為二氧化硫。二氧化硫在紫外線的照射下會(huì)發(fā)出固定波長(zhǎng)的熒光，該儀器通過(guò)光電倍增管接收并放大熒光信號(hào)，再經(jīng)計(jì)算機(jī)處理，即可快速準(zhǔn)確地測(cè)定出樣品中的硫含量。以下是熒光測(cè)硫儀的正確操作步驟，希望對(duì)您有所幫助。步驟一：準(zhǔn)...
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XRF礦石分析儀測(cè)試螢石中 CaF2、SiO2、Fe2O3和 S成分?
EDX9000Bplus礦石分析儀測(cè)試螢石中CaF2、SiO2、Fe2O3和S成分?螢石（Fluorite或Fluorspar或Fluor），又稱氟石、砩石，是一種礦物，其主要成分是氟化鈣（CaF2），含雜質(zhì)較多。其中的鈣常被釔和鈰等稀土元素替代，此外還含有少量的Fe2O3、SiO2和微量的Cl、O3和He等。自然界中的螢石常顯鮮艷的顏色，硬度比小刀低[1]。螢石可以用于制備氟化氫：CaF2+H2SO4→CaSO4+2HF[2]；它的色散極低，對(duì)紅外線、紫外線的透過(guò)性能高，適...
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XRF鍍層測(cè)厚膜厚儀應(yīng)用介紹
RF鍍層測(cè)厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進(jìn)行涂層測(cè)量的好處準(zhǔn)確的厚度測(cè)量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，同時(shí)控制成本。涂層的厚度應(yīng)與完成工作所需的一樣厚；制造涂層太厚的產(chǎn)品會(huì)增加制造成本?？蛻暨€通過(guò)確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來(lái)測(cè)量涂層，以對(duì)進(jìn)料進(jìn)行質(zhì)量控制。使用快速、高效且無(wú)損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行質(zhì)量控制。一臺(tái)EDX8000測(cè)厚儀可以在短短10秒內(nèi)提供測(cè)試結(jié)果，并且可以通過(guò)單點(diǎn)校準(zhǔn)鏡頭來(lái)完善結(jié)果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不會(huì)...
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XRF熒光光譜儀合金分析儀在鋅合金分析中的應(yīng)用
XRF熒光光譜EDX9000A?合金分析儀在鋅合金分析中的應(yīng)用EDX9000A合金分析儀配備一個(gè)含35種以上元素的標(biāo)準(zhǔn)包，在幾秒鐘內(nèi)可生成合金的化學(xué)成分和牌號(hào)信息。從簡(jiǎn)單的分揀到具有挑戰(zhàn)性的牌號(hào)區(qū)分，合金分析光譜儀EDX9000A都會(huì)提供高度精細(xì)的材料化學(xué)成分，以快速準(zhǔn)確地辨別純金屬和合金牌號(hào)。這些金屬和合金包含但不限于以下所列項(xiàng)目：鋁合金貴金屬鉻鉬鋼不銹鋼鈷合金工具鋼銅合金鈦合金異常合金鍛鋁合金鎂合金鋅合金鎳合金鋯合金鎳/鈷合金本案我們?cè)赬射線能量色散熒光光譜分析(XRF)...
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XRF合金分析儀用溶片玻璃法分析錳鐵錳硅和金屬錳
XRF熔片玻璃法分析錳鐵,錳硅合金和金屬錳---EDX9000A合金分析儀硅鐵和硅錳合金是鋼鐵冶煉主要的添加劑和脫氧劑，準(zhǔn)確的測(cè)定其中各個(gè)元素是十分必要的。作為合金分析通常采用化學(xué)分析方法測(cè)定主量元素硅和錳，采用ICP原子發(fā)射光譜儀測(cè)定其中的各雜質(zhì)元素，就其方法而言化學(xué)分析方法耗時(shí)較長(zhǎng)，操作繁復(fù)，ICP分析時(shí)間長(zhǎng)，而且需要進(jìn)行試樣分解。通過(guò)大量的實(shí)驗(yàn)研究確定了試樣粒度、樣環(huán)的材質(zhì)、樣片的制備方法、測(cè)定條件等采用XRF熔片法測(cè)定硅鐵和硅錳合金，可以直接玻璃熔片法，同時(shí)進(jìn)行主量元...
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XRF鍍層測(cè)厚儀在金屬鍍層定量定性分析中的應(yīng)用
XRF熒光膜厚儀鍍層測(cè)厚儀EDX8000B在金屬鍍層定性和定量分析中的應(yīng)用?X射線熒光光譜(XRF)鍍層測(cè)厚儀EDX8000B廣泛應(yīng)用于在鍍層中的定性和定量分析。我們對(duì)檢測(cè)步驟進(jìn)行了測(cè)量和優(yōu)化.該方法采用每個(gè)元素*的特征X射線來(lái)確定是否沉積上某種元素;利用FP法快速測(cè)定一組在不同濃度的電解液中電沉積所得鍍層中的銅元素含量,結(jié)果表明該方法可以快速測(cè)定鍍層中元素含量的變化,該方法具有測(cè)試準(zhǔn),投入少,易掌握,速度快等特點(diǎn)X-RAY測(cè)厚儀EDX8000B的基本原理X射線廣泛用于各種無(wú)...
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XRF多元素成分分析儀在選礦尾礦上的應(yīng)用
硅鐵，鈣鐵，鐵紅，磁鐵礦，錳鐵，鉻鐵，鉬鐵，鈦鐵，釩鐵分析儀EDX9000B多元素分析儀?英飛思EDX9000B光譜儀主要應(yīng)用于在采礦過(guò)程的所有階段進(jìn)行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環(huán)境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。EDX9000B專(zhuān)注于對(duì)地質(zhì)材料的主量，微量和痕量元素進(jìn)行定性和定量分析，其中包括：?鐵礦?銅礦?鋁土礦?貴金屬礦產(chǎn)?稀土礦?原料?磷酸鹽?煤炭?鉛鋅礦?錳礦?鎳礦?石灰石?粘土?石膏?玻璃?土壤?水...
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熒光光譜測(cè)金儀可通過(guò)這些方法分離熒光
熒光光譜測(cè)金儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法，是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫(huà)和壁畫(huà)。該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強(qiáng)度準(zhǔn)確性和波長(zhǎng)準(zhǔn)確性以及強(qiáng)的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要求能夠進(jìn)行導(dǎo)數(shù)、去卷積等復(fù)雜的數(shù)學(xué)計(jì)算，能夠計(jì)算光譜間相似度、模式識(shí)別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫(kù)并進(jìn)行檢索。熒...
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