EDX黃金光譜測(cè)金儀在配置上有哪些優(yōu)勢(shì)

更新時(shí)間：2023-03-31 點(diǎn)擊次數(shù)：1192

熒光光譜測(cè)金儀亦稱XRF設(shè)備其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射線探測(cè)器同時(shí)探測(cè)樣品所發(fā)出的各種能量特征X射線。XRF測(cè)金儀檢測(cè)出來(lái)的結(jié)果通常需要全面理解，由于被測(cè)的首飾產(chǎn)品不同，使用的儀器不同，檢測(cè)人員的素質(zhì)水平不同，對(duì)檢測(cè)結(jié)果的接收范圍建議在以下范圍內(nèi)選取。

影響XRF測(cè)金儀的檢測(cè)結(jié)果的因素有很多。由于首飾產(chǎn)品的特殊情況，受方法原理的限制，在使用本方法時(shí)檢測(cè)人員應(yīng)了解和熟悉以下影響結(jié)果的因素（這些影響因素在不同情況下將對(duì)特征譜線強(qiáng)度的采集產(chǎn)生很大的影響，甚至造成誤判）：

a)被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)所含元素組成和含量有較大的差異；

b)被測(cè)樣品的表面有鍍層或經(jīng)化學(xué)處理；

c)測(cè)量時(shí)間；

d)樣品的形狀；

e)樣品測(cè)量的面積；

f)貴金屬的含量多少。

硬件配置：

檢測(cè)器：比例計(jì)數(shù)器

輸出計(jì)數(shù)率：0-30000cps

溫度通道漂移<1通道（10小時(shí)）

X射線源

X射線管燈絲限流：1mA