中国杭州少妇xxxx做受,欧美性猛交xxx乱大交3蜜桃,日本亚洲精品中字幕日产2020,久久久精品久久久

歡迎來到蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司網(wǎng)站!
咨詢熱線

18962188051

當前位置:首頁  >  技術(shù)文章  >  X射線熒光光譜儀測定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素

X射線熒光光譜儀測定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素

更新時間:2022-10-12      點擊次數(shù):582

X射線熒光光譜儀EDX9000B測定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素

采用熔融片制樣用X射線熒光光譜儀EDX9000B對陶瓷,色料和釉物料中Na,Mg,A1,Si,P,S,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Zr,Zn,Hf 15種元素進行了測定,用經(jīng)驗系數(shù)法校正基體效應(yīng).方法簡便,快速,分析結(jié)果的準確度*能滿足上述物料分析的要求.還用純化學(xué)試劑和標準樣品按一定比例混合制備標準樣品,彌補了色料和釉缺少標準或沒有標樣的困難.又對Zr和Hf元素分析線進行了選擇,用ZrLα和HfLβ1作為分析線,而不采用ZrKα,不僅使制備的熔片達到ZrLα線的飽和厚度,使分析結(jié)果的準確度和重現(xiàn)性好,而且還消除了ZrKα的譜線對HfLβ1分析線的干擾


蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司
  • 聯(lián)系人:張經(jīng)理
  • 地址:江蘇省蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2幢407
  • 郵箱:sales@esi-xrf.com
  • 傳真:
關(guān)注我們

歡迎您加我微信了解更多信息

掃一掃
聯(lián)系我們
版權(quán)所有©2024蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司All Rights Reserved    備案號:蘇ICP備2021018034號-2    sitemap.xml    總流量:158076
管理登陸    技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)