X熒光硫測定儀是基于X射線熒光光譜技術(shù)分析的一種測試光譜儀。
X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。
其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣,樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候,會放射出硫元素的特征 X 光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號,儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應(yīng)的測試強度。用標準物質(zhì)樣品建立特征X射線強度與硫含量之間的關(guān)系,也就是標定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標定曲線后,再去測試未知樣品,便可快速分析石油及其他液體中的硫含量。
X熒光測硫儀的優(yōu)勢
1.快速,一個樣品通常只要100秒即可得出S硫含量
2.準確,測試結(jié)果可以達到實驗室級別精度
3.無損。X熒光測硫儀是一種非破壞性分析。對樣品是*無損的
4.樣品制備簡單,僅需要將樣品放入5ml專用樣品杯,即可上機測試。
5.使用和維護成本低,不需要消耗惰性氣體
6.操作簡單,上手快速,無需每日重復(fù)標定,大大提升測試效率
7.線性動態(tài)范圍寬,可分析從1mg/L到10000mg/L的硫含量
8.不受樣品基體影響,X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系
9.長期穩(wěn)定性和測試精密度高
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