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XRF鍍層測(cè)厚儀用于涂層測(cè)厚元素分析

更新時(shí)間:2022-08-31      點(diǎn)擊次數(shù):660

XRF鍍層測(cè)厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀

使用 XRF 進(jìn)行涂層測(cè)量的好處

準(zhǔn)確的厚度測(cè)量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品,同時(shí)控制成本。涂層的厚度應(yīng)與完成工作所需的一樣厚;制造涂層太厚的產(chǎn)品會(huì)增加制造成本??蛻暨€通過確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來測(cè)量涂層,以對(duì)進(jìn)料進(jìn)行質(zhì)量控制。


使用快速、高效且無損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行質(zhì)量控制。一臺(tái) EDX8000測(cè)厚儀可以在短短 10 秒內(nèi)提供測(cè)試結(jié)果,并且可以通過單點(diǎn)校準(zhǔn)鏡頭來完善結(jié)果,只需 30 秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不會(huì)損壞被測(cè)材料。

EDX8000膜厚儀是一款緊湊型的臺(tái)式 XRF鍍層測(cè)厚儀,用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、成本效益, 可以提供與材料元素成分有關(guān)的準(zhǔn)確信息。測(cè)定鍍層樣品厚度及成分例如

Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu

測(cè)厚儀EDX8000是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀,可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍:原子序數(shù)16號(hào)(硫)-92號(hào)(鈾)中的元素。分析的樣品類型:各種不同材料,如金屬、合金、塊體、溶液等。

涂層可以起到裝飾、保護(hù)或其他功能的作用。例如,汽車工業(yè)使用涂層來實(shí)現(xiàn)耐腐蝕、裝飾、耐磨和保護(hù)電子產(chǎn)品。同樣,航空航天工業(yè)使用的涂層有助于最大限度地減少阻力并防止碎片和堆積,從而節(jié)省燃料消耗。

涂層如此普遍,因?yàn)榇蠖鄶?shù)都有重要的好處。鎳堅(jiān)韌、耐用且具有延展性,使其成為一種流行的涂層材料。根據(jù) ASTM 推薦的鋼質(zhì)表面處理標(biāo)準(zhǔn),大約 10 微米的鎳應(yīng)用于烤面包機(jī)、華夫餅機(jī)、烤肉機(jī)和類似設(shè)備。為了防潮,鎳被應(yīng)用于爐頂、家具、浴室配件和櫥柜。另一種流行的鍍層鉻與鎳相似,但具有更強(qiáng)的抗腐蝕和耐磨性。


涂層材料的其他常見應(yīng)用包括:

屏蔽電子設(shè)備:導(dǎo)電涂層用于幫助屏蔽塑料設(shè)備

建筑飾面:涂層保護(hù)鋼鐵不生銹,保護(hù)銅和黃銅不生銹,保護(hù)鋅和鋁不被弄臟

太陽能電池:許多太陽能電池具有薄合金或聚合物涂層

工具鋼:鈦和碳化鎢有助于提高耐磨性和耐用性

電線:鋅和鎳涂層正在取代舊的鎘涂層


XRF 如何測(cè)量涂層厚度和鍍層材料

英飛思XRF鍍層測(cè)厚儀分析儀可以測(cè)量從 0.00 到大約 60.00 微米的涂層厚度,具體取決于材料。 X 射線從分析儀發(fā)出,它們撞擊樣品,使其發(fā)出熒光。分析儀檢測(cè)返回的 X 射線并使用數(shù)據(jù)計(jì)算涂層或涂層的厚度。


根據(jù) ASM International 的耐腐蝕和耐磨表面工程,屬于該范圍的各種表面工程技術(shù)是電鍍(機(jī)械、化學(xué)、電解)、蒸汽(化學(xué)、物理沉積)和粘合(樹脂或漆)。


EDX8000鍍層涂層測(cè)厚儀的優(yōu)勢(shì)

微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件


通過將高亮度一次 X 射線照射到約 0.02mm的區(qū)域,實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量


硅漂移探測(cè)器 (SDD) 作為檢測(cè)系統(tǒng)


高計(jì)數(shù)率高分辨率硅漂移檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量


自動(dòng)測(cè)量輔助功能


精確的多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量功能有助于提高測(cè)量效率。


通過簡(jiǎn)單的界面和軟件的幫助功能實(shí)現(xiàn)輕松操作


通過使用注冊(cè)應(yīng)用程序的配方,可以輕松地進(jìn)行日常測(cè)量。




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